涂层测厚仪 GT820NF 膜厚仪 铝氧化层厚度检测
功能：
采用了涡流测厚方法，可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度；
可采用两种方法对仪器进行校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正；
操作过程有蜂鸣声提示；
电池电压指示：低电压提示
自动关机
测量方法： NF 涡流
技术参数
测量范围：0~1250um (其他量程可定制)
分辨率：0.1/1
最小曲率半径: 凸 5mm/ 凹 5mm
最小测量面积：10X10mm
最薄基底：0.4mm
使用环境：温度：0-40 湿度：10-85%RH
准确度：±(1.5+3%h)或±2um
公制/英制：可转换
机身尺寸：102mm×66mm×24mm
电源：2节5号电池
重量：99g（含电池）
测量时注意事项
1） 基体金属特性
对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。
2） 基体金属厚度：检查基体金属厚度是否超过临界厚度，如果没有，进行校准后，可以测量。
3） 边缘效应：不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。
4） 曲率：不应在试件的弯曲表面上测量。
5） 读数次数：通常由于仪器的每次读数并不完全相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层 厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗糙时更应如此。
6） 表面清洁度：测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质。
7） 磁场：周围各种电气设备所产生的磁场会严重干扰磁性测厚工作。
8） 测头取向：测头的放置方式对测量有影响，在测量时应该与工件保持垂直。
深圳市速德瑞科技有限公司主营UV能量计、透光率仪、光泽度仪、涂层测厚仪、内窥镜、水分仪等各类仪器仪表
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